书目信息 |
| 题名： |
数字集成电路容错设计
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| 作者： | 李晓维 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2011.04 |
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| 页数： | 10,433页 | |
| 开本： | 25cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN431.2 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 数字集成电路--电路设计 , 数字集成电路 , 电路设计 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-030576-3 | |
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| 300 | @a中国科学院科学出版基金资助 | |
| 304 | @a著者还有：胡瑜，张磊，鄢贵海 | |
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| 数字集成电路容错设计：容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误/李晓维[等]著.-北京：科学出版社，2011.04 |
| 10,433页：图；25cm |
| 中国科学院科学出版基金资助 |
| ISBN 978-7-03-030576-3(精装)：CNY68.00 |
| 本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面：容缺陷(和故障)、容参数偏差以及软错误；包括3S技术(自测试、自诊断、自修复)的基本原理。 |
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| 相关链接 |
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正题名：数字集成电路容错设计
索取号：TN431.2/145
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 982210 | 209822101 | 第二样本阅览室/ [索取号:TN431.2/145] | 在馆 | |
| 2 | 982211 | 209822110 | 第三借阅区/ [索取号:TN431.2/145] | 在馆 | |
| 3 | 982212 | 209822129 | 第三借阅区/ [索取号:TN431.2/145] | 在馆 | |
| 4 | 982213 | 209822138 | 密集书库-物理学院/ [索取号:TN431.2/145] | 在馆 |