书目信息 |
| 题名： |
基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究
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| 作者： | 谢小军 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 西安 西安交通大学出版社 2017.07 |
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| 页数： | 123页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | “十三五”学术文库系列 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TM21 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 绝缘材料--介电性质--研究 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-5605-9902-1 | |
| 000 | 00955oam2 2200241 450 | |
| 001 | 392 | |
| 005 | 20180922101206.79 | |
| 010 | @a978-7-5605-9902-1@dCNY42.00 | |
| 100 | @a20171116d2017 emky0chiy50 ea | |
| 101 | 0 | @achi@deng@eeng |
| 102 | @aCN@b610000 | |
| 105 | @ay z 000yy | |
| 200 | 1 | @a基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究@9ji yu fen zi mo ni de dian xing jue yuan cai liao jie dian te xing yan jiu@f谢小军著 |
| 210 | @a西安@c西安交通大学出版社@d2017.07 | |
| 215 | @a123页@d24cm | |
| 225 | 1 | @a“十三五”学术文库系列 |
| 330 | @a本文针对这两种不同的电介质材料，研究如何准确建立微观结构模型，并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性，分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性，分析相变对于介电特性的影响规律。 | |
| 461 | 0 | @12001 @a“十三五”学术文库系列 |
| 606 | 0 | @a绝缘材料@x介电性质@x研究 |
| 690 | @aTM21@v5 | |
| 701 | 0 | @a谢小军@9xie xiao jun@f(1980-)@4著 |
| 801 | 0 | @aCN@b91MARC@c20171116 |
| 905 | @aMuseLib@dTM21@e28 | |
| 基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究/谢小军著.-西安：西安交通大学出版社，2017.07 |
| 123页；24cm.-(“十三五”学术文库系列) |
| ISBN 978-7-5605-9902-1：CNY42.00 |
| 本文针对这两种不同的电介质材料，研究如何准确建立微观结构模型，并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性，分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性，分析相变对于介电特性的影响规律。 |
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正题名：基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究
索取号：TM21/28
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