书目信息 |
| 题名： |
集成电路可靠性
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| 作者： | ；上海冶金研究所 编译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 上海 上海科学技术情报研究所 |
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| 页数： | 64页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN406 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 微电子技术 , 集成电路 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | ||
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| 集成电路可靠性/上海冶金研究所 编译.-上海：上海科学技术情报研究所 |
| 64页；26cm |
| ISBN ： |
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| 相关链接 |
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正题名：集成电路可靠性
索取号：TN406/105
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 0473897 | 204738971 | 密集书库/ [索取号:TN406/105] | 在馆 |