书目信息 |
| 题名： |
电子元器件检验技术
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| 作者： | 王晓晗 ， 罗宏伟 编著 | |
| 分册： | 测试部分 | |
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2019.01 |
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| 页数： | 11, 382页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 可靠性技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN606 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子元器件--dian zi yuan qi jian--测试技术 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-33485-6 | |
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| 330 | @a本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上，结合我国电子元器件产业现状，从电子元器件检验和生产行业出发，围绕电子元器件检验主题，详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系，以及不同类别电子元器件的检验技术等。 | |
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| 电子元器件检验技术.测试部分/王晓晗, 罗宏伟编著.-北京：电子工业出版社，2019.01(2020.07) |
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| ISBN 978-7-121-33485-6：CNY98.00 |
| 本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上，结合我国电子元器件产业现状，从电子元器件检验和生产行业出发，围绕电子元器件检验主题，详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系，以及不同类别电子元器件的检验技术等。 |
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正题名：电子元器件检验技术
索取号：TN606/101
预约/预借
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| 2 | 1245238 | 212452380 | 第三借阅区/ [索取号:TN606/101] | 在馆 | |
| 3 | 1245239 | 212452399 | 第三借阅区/ [索取号:TN606/101] | 在馆 |